报告题目：

芯片SCAN测试原理及诊断方法学

报告时间：2021年4月20日（星期二）14:00至15:20

报告地点：翡翠科教楼A座第五会议室

报 告 人：付海涛 博士

工作单位：深圳市海思半导体有限公司

举办单位：微电子学院/物理学院

报告简介：

随着摩尔定律的演进，工艺逐步深入，DFT（可测性设计）及其诊断学在其良率提升环节具有越来越重要的价值和地位。本讲座立足于逻辑SCAN测试原理，从工程应用角度探讨先进工艺下的精准诊断和良率提升方法学。

报告人简介：

付海涛，博士，毕业于电子科技大学，2010年加入华为海思，现担任海思DFX平台技术专家，主要技术方向为数模测试、DFT架构研究。