由中国计算机学会（CCF）主办，西安邮电大学、西安科技大学、中国计算机学会容错计算专业委员会、中国计量测试学会集成电路测试专业委员会共同承办的第十一届中国测试学术（CTC 2020），于2020年8月20日-23日在西安市陕西宾馆隆重召开。

系统结构研究室的梁华国教授、易茂祥教授、黄正峰教授、鲁迎春老师参加本次会议。论文An anti-interference low-power double-edge triggered flip-flop based on C-elements获得最佳论文（第1名），第一作者是黄正峰教授，通讯作者是徐奇老师。

本届大会主席、中国科学院院士、西安电子科技大学郝跃教授出席开幕式并作大会特邀报告，CCF容错计算专业委员会主任、中科院计算技术研究所韩银和研究员，CCF监事长、CSM计量测试学会主任、中科院计算所李晓维研究员，西安邮电大学校长范九伦教授出席会议开幕式并致辞，西安科技大学校长蒋林教授等出席会议开幕式，来自全国各高校、研究所、企业160余位专家、学者线下参加会议，CCF容错计算专委会秘书长叶靖主持开幕式，西安邮电大学电子工程学院院长杜慧敏教授介绍本次会议概况。

范九伦对参会专家学者表示热烈欢迎，向中国计算机学会长期以来对西邮的支持和帮助表示衷心感谢。他表示，西邮高度重视软硬件测试和容错技术相关领域的研究工作。学校主动对接国家和陕西省重大需求，以服务行业和地方经济社会发展为导向，充分发挥学科专业优势，引导师生参与高水平科研创新项目，在GPU芯片研发、无线网络安全、图像处理、北斗导航、高性能计算、金融风险分析、5G无线传输技术等领域开展了新研究，并取得一系列学术成果。希望以此次会议为契机，促进相互交流，广聚学术资源，广交学术人才，开阔视野，增进友谊，激励创新，为促进软硬件测试和容错技术的发展寻求新思路，拓展新途径。

在大会邀请报告环节，中国科学院郝跃院士做题为“从集成电路芯片谈创新体系建设”的主题报告；华为技术有限公司可靠性首席科学家章迅研究员做题为“ICT可靠性技术发展与挑战”的主题报告；天津飞腾信息技术有限公司副总经理张承义做题为“CPU芯片可测性设计技术与实践”的主题报告；东南大学李必信教授做题为“软件全方位缺陷检测技术研究进展”的主题报告；南洋理工大学刘杨教授做题为“基于开源大数据的漏洞检测平台”的主题报告；美国乔治梅森大学Kris Gaj教授做题为“Post-Quantum Cryptography in Hardware and EmbeddedSystems：Toward Choosing the Most Efficient and Flexible New Public Key Cryptography Dtandards”的主题报告；上海交通大学蒋力副教授做题为“ReRAM-based In-memory Computing-a cross-layer co-design way”的主题报告。

郝跃院士主题报告

大会特邀报告风采

除了重磅的主题报告之外，前沿技术论坛和学术论文同样精彩纷呈。共同探讨了测试、容错、可信、硬件安全、集成电路设计自动化及相关领域关键问题和最新研究进展。

会议线下活动

会议线上活动

会议期间，CCF容错计算专业委员会召开了全体委员工作会议，增补了25名新委员。与会委员对专委会的工作和今后发展进行了具体深入的讨论，并确定了第十二届全国测试学术会议的承办单位。

此次会议的成功举办不仅为测试、容错领域献上了一场学术盛宴，也促进了参会专家学者的相互了解、交流、合作。

（文：戚昊琛  图：鲁迎春）