梁华国
发布时间:2020-11-05    发布人:戚昊琛    阅读次数:9138

姓 名:梁华国

职 称:教授

职 务:教授

所属系:集成电路系

邮 箱:huagulg@hfut.edu.cn

电 话:0551-62919106

个人简介:

德国斯图加特大学博士,合肥工业大学教授博士生导师;国家自然科学基金委会评专家,国家重点实验室评估专家,中国计量学会集成电路测试专业委员会副主任,安徽省教学名师,合肥市集成电路产业联盟、半导体行业协会副理事长,合肥工业大学留学归国人员联谊会会长曾多次担任亚洲国际测试会议专题主席、会议主席和总主席,以及中国测试学术会议执行主席发表论文200篇,出版英文专著一部,获得国家发明专利20余项

研究方向:

容错计算与硬件安全、嵌入式系统综合与测试、智能控制系统

开设课程(本科生、研究生):

本科生课程《数字逻辑电路
研究生课程《超大规模集成电路测试基础

科研项目:

1.纳米集成电路边缘缺陷测试分析仪研制(基金委国家重大科研仪器研制项目,主持,No. 62027815

2.集成电路近似计算基础理论与设计方法(国家自然科学基金重点合作项目,项目负责人,No.61834006

3.基于TSV测试与容错的3D芯片良率提升方法研究(主持国家自然科学基金面上项目,主持,No.61674048

4.承担国家自然科学基金委重点面上、国家973 计划、Philips半导体公司、德国国家自然科学基金(DFG、国家部委预研基金项目、省级科研项目、企业委托等项目20余项。

代表成果(著作、论文、专利等,限10项):

1.Liang HuaguoXu XiuminHuang ZhengfengJiang CuiyunLu YingchunYan AibinNi TianmingOuyang YimingYi MaoxiangA Methodology for Characterization of SET Propagation in SRAM-Based FPGAs, IEEETransactions on Nuclear Science, 2016, 63(6): 2985-2992.
2
.Maoxiang Yi, Jingchang Bian, Tianming Ni, Cuiyun Jiang, Hao Chang, Huaguo Liang, A Pulse Shrinking-Based Test Solution for Prebond Through Silicon via in 3-D ICs
in IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, vol. 38, no. 4, pp. 755-766, April 2019.
3
.Huaguo LIANG
Xiangsheng FANGMaoxiang YIZhengfeng HUANGYingchun LUA novel BIST scheme for circuit aging measurement of aerospace chips , Chinese Journal of Aeronautics, 2018, 31(7): 1594-1601.
4
.Huaguo Liang, Xin Li, Zhengfeng Huang, Aibin Yan and Xiumin Xu. Highly robust double node upset resilient hardened latch design. IEICE Transactions on Electronics, 2017.5, E100-C
5: 496~503.

5.Liang HuaguoXu HuiHuang ZhengfengYi MaoxiangA low-leakage and NBTI-mitigated N-type domino logicJournal of Semiconductors35(1)0150092014/1.
6
.Luming Y.
L. HuaguoH. ZhengfengL. Yanbin, A FAULT DETECTION SENSOR FOR CIRCUIT AGING USING DOUBLE-EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOP. Journal of Electronics(China)2013(01): 97-103.
7
.Maoxiang Yi, Huaguo Liang, Lei Zhang and Wenfa Zhan, A Novel x-ploiting Strategy for Improving Performance of Test Data Compression, IEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systems. Vol. 18, No.2, 2010 .
8
.Huoguo Liang
A New Technique for Deterministic Scan-Based Built-In Self-Test,  SHAKER VERLAG, 2003.
9
.Hua-Guo Liang
Hellebrand, S.Wunderlich, H.-J. Two-dimensional test data compression for scan-based deterministic BIST. International Test Conference 2001, ITC2001, p 894-902.
10
.Hellebrand S, Liang HG, Wundrlich HJ. A mixed mode BIST scheme based on reseeding of folding counters. Journal of Electronic Testing-Theory and Applications, v 17, 2001, p 341-349.

获奖荣誉:

国务院特殊津贴专家,安徽省教学名师、荣获合肥工业大学首届“研究生心目中的优秀导师”称号;多次获得安徽省科技进步奖、安徽省自然科学奖、安徽省教学成果奖,多次获得欧洲国际测试会议最佳论文奖励

个人(实验室)主页:

http://ca.hfut.edu.cn/


0551-62919106

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