2025年5月25日至28日，由IEEE 电路与系统协会（CAS）主办的电路与系统领域全球著名学术会议——IEEE 电路与系统国际研讨会（The 57th IEEE International Symposium on Circuits and Systems）在英国伦敦召开。该会议是 IEEE CAS协会的旗舰会议，也是电路与系统理论、设计和实现领域研究人员的全球首屈一指的论坛。本次会议以“技术颠覆与社会”为主题，旨在强调IEEE CAS 协会在寻找创新解决方案以应对当今社会面临挑战方面的潜力。作为我院集成电路容错设计与测试团队重要成员，闫爱斌教授、梁华国教授应邀参会，并由闫爱斌教授做分组报告。
闫爱斌教授所做报告的题目为“TNURML: Triple-Node-Upset-Recovery Magnetic Latch Design with Non-Volatility for Aerospace Applications”。随着半导体技术的进步，辐射粒子引发的软错误和功耗问题正成为航空航天应用中数字电路的主要挑战。为应对这些问题，业界广泛采用抗辐射设计（RHBD）和磁隧道结（MTJ）技术。论文提出了一种名为TNURML的新型锁存器，该锁存器通过RHBD技术实现任意三节点翻转（TNU）的在线自恢复，同时实现数据备份操作；通过内置具有非易失特性且兼容传统CMOS工艺的MTJ结构实现非易失，并在断电后实现数据恢复操作。通过创新的电路设计， TNURML锁存器展现出完备的TNU自恢复能力和非易失特性。
闫爱斌教授还参加了IEEE TVLSI期刊编委会会议和IEEE TCASII期刊编委会会议。与会期间，团队成员与IEEE总主席Kathleen Kramer、TCASI期刊总主编Jose Rosa（IEEE Fellow）教授、TVLSI期刊总主编Stan Mircea（IEEE Fellow）教授、TCASII期刊总主编Edoardo Bonizzoni（IEEE Fellow）教授、TCASAI期刊总主编陈怡然（IEEE Fellow）教授等知名学者展开深入交流并合影留念。通过参加本次会议，收获了诸多极具价值的建议与意见，并为深度加强国际交流与合作、切实推动我院学科建设以及人才培养等工作起到了良好的铺垫作用。
（胡嫦莉 文/图 刘梅 审核）
