当集成电路的特征尺寸达到纳米级，加工过程中在器件表面的纳米污染物颗粒将严重影响集成电路的良品率。国际上， 半导体制造技术战略联盟 (SEMATECH)和IEEE国际半导体技...

近日，我院集成电路设计研究中心提出并实现一种具有高分辨率、高位宽的数字脉宽调制器混合结构，相关成果以“A High Resolution DPWM Based on Synchronous Phase-Shift...

近日，我院先进半导体器件与光电集成实验室的王莉副教授与胡继刚副教授和罗林保教授合作，成功研发出一种峰值波长位于1060纳米的硅肖特基近红外窄带光电探测器。相关成...